可以使用转态存储 + 逾时 (Timeout) 触发,就可以了,
操作步骤为
1. 设定硬件模式为 200M,Transitional Storage-8 或 -32
2. 选择触发模式为逾时触发
3. 设定逾时触发时间为超出总线正常空闲 (Idle),以避免误触发
4. 开始截取信号
5. 等待测系统死机后,逾时触发就会生效,此时再按下逻辑分析仪软件停止键,就可以观察死机前总线上面的信号。

可以的,只要将叠加同步线 (MCX-MCX / MCX-BNC) 连接方向改由示波器 Trig-Out 连接到逻辑分析仪 Trig-In,在设定逻辑分析仪软件为外部触发,并切换示波器至 Single Shot 状态等待触发即可。

是的,使用转态存储时只要信号转态即存入逻辑分析仪记忆体,信号没转态部分仅记录信号状态以及经过时间,所以无法精确利用 T 游标来估算 Pre-Trigger / Post Trigger 占了整体逻辑分析仪记忆体多少比例,所以固定 T 游标位置。

抱歉,这个部分因为涉及较复杂的结构,故没有开放给客户自行编辑 IC 资料。若您有这样的需求,我们的建议是:
1. 找寻同厂牌相似的IC 型号即可,通常同厂牌的命令都会相同。
2. 提供我们该 IC 型号的 Datasheet 或告知从那里下载,由我们进行资料收录工作。

逻辑分析仪架构上并不合适直接测量差分信号,只适合测量单端 (Single-Ended) 信号,也就是信号输入端与地线。
若有数字差分信号测量的需求,建议要在差分信号收发器转换成单端信号之后,才能用逻辑分析仪进行测量。

前面的 200M 代表该模式最高的取样频率,后面的数字代表可用通道数,使用的通道数越少,每通道所分配到的总记忆深度会更多。

目前我们在 TL3234B+ 系列实际进行测量,最快测试到 1.8V SD UHS-I (208MHz) 的信号及 eMMC 5.0 HS400 (200MHz) 是没有问题的。因此,可以测量的信号速度上限制在这个范围左右。

±40V DC, 15Vpp AC。

我们实际测试过的最低工作电压,以 Intel SVID 信号其工作电压为 1V,TravelLogic 只要将 Threshold 设定在 0.5V-0.6V 左右就可以正常进行测量,因此,高于此电压的信号,只要逻辑分析仪能用 Threshold 区分出逻辑 0 与 1,就能进行测量,至于低于 1V 的数字信号,因为 Threshold 已经不容易设定,我们就不推荐进行测量。