熱門關鍵字

JTAG

JTAG (Joint Test Action Group)是一種國際標準測試協議 (IEEE 1149.1),主要用於晶片內部測試 (如 CPU、DSP、CPLD、FPGA等)。這種標準最初由 Joint Test Action Group 組織開發,後來成為 IEEE 1149.1 標準,被廣泛應用於電子設計和製造領域。

標準的 JTAG 總共包括五個訊號介面:TCK、TMS、TDI、TDO 和 TRST。其中四個是輸入訊號介面和另外一個是輸出訊號介面。JTAG 最初是用來對晶片進行測試的,基本原理是在元件內部定義一個 TAP (Test Access Port),通過專用的 JTAG 測試工具對內部節點進行測試。

JTAG 主要應用於可程式化晶片的內部邏輯測試,包括但不限於 CPU(中央處理器)、DSP(數位訊號處理器)、CPLD(可編程邏輯設備)和FPGA(現場可編程閘陣列)。這種標準使得在這些晶片中集成的邏輯電路能夠受到更全面的測試,從而提高可靠性和品質。

在 JTAG 標準中,通常使用 5V 的電壓範圍。這種電壓設計確保了足夠的訊號幅度,以確保在 JTAG 通訊過程中的可靠性。然而,隨著技術的發展,也有一些應用中使用較低的電壓,如 1.8V 或3.3V,以滿足低功耗和現代晶片設計的需求。

邏輯分析儀

TB3016F

TB3016F

TB3000系列 規格書 PDF

MSO1116E

MSO2116E

MSO1000/2000系列 規格書 PDF

型號 TB3016F MSO1116E
解碼 y y

類比通道

y

JTAG 解碼

匯出為 TXT/CSV

在邏輯分析儀模式下,點擊報告區上方的圖示,可將解碼資料匯出為 TXT/CSV 檔案。

Export Icon

設定 JTAG 解碼 步驟說明

1. 點擊 快速設定新增協定分析通道 可建立所需的通道與相關設定。

2. 選擇 JTAG 進行解碼。

3. 若使用 快速設定,系統會提供 觸發條件取樣率觸發準位 及 通道設定方式 的建議設定值。

4. 點擊圖示以進入 解碼設定 畫面。

Image 1
Image 2

解碼設定

通道 (Channel):指定與待測物相接之通道編號。

cJTAG:可選擇是否開啟,開啟後 TDI/TDO 將反灰顯示,TCK/TMS 則為 cJTAG(OScan1) 模式下的 TCKC/TMSC 通道。

TRST:可選擇是否使用,若您會使用解釋指令功能的話,那系統就會根據您所選定的指令資料來決定是否用 TRST pin。

ADV 參數設定說明

解釋指令若勾選, 將可以看到一個指令列表。JTAG protocol 分析將會在 Update-IR 時,將指令暫存器 (Instruction register) 的內容之指令顯示出來。使用者可選擇 “編輯…” 功能,使用編輯器自行添加修改指令列表檔 (JtagInst.txt)。修改完成後, 再按一次 “刷新”,就可以更新指令列表。

選擇顯示測試資料:
Test data:使用者可選擇 Input (TDI) 或 Output (TDO);將會以 16 進制顯示TDI 或 TDO 的資料。

測試資料位元方向因 JTAG 在資料傳輸時,資料長度可能不定。因此,使用者可指定解釋 TDI/TDO 時,資料是 LSB First 或 MSB First。

Report 參數設定說明

報告:啟用報告過濾功能,只要勾選需顯示於報告示窗內的項目。

Show TDI or/and TDO:若選擇 ”Show TDI and TDO” 時,報告視窗將會同時顯示 TDI 與 TDO。


JTAG 分析範例波形檔

我們使用 cookies 來了解您如何使用我們的網站並改善您的體驗。 繼續使用我們的網站,即表示您接受我們使用 cookies,點此查看 隱私政策