JTAG

JTAG (Joint Test Action Group)是一種國際標準測試協議 (IEEE 1149.1)，主要用於晶片內部測試 (如 CPU、DSP、CPLD、FPGA等)。這種標準最初由 Joint Test Action Group 組織開發，後來成為 IEEE 1149.1 標準，被廣泛應用於電子設計和製造領域。

標準的 JTAG 總共包括五個訊號介面：TCK、TMS、TDI、TDO 和 TRST。其中四個是輸入訊號介面和另外一個是輸出訊號介面。JTAG 最初是用來對晶片進行測試的，基本原理是在元件內部定義一個 TAP (Test Access Port)，通過專用的 JTAG 測試工具對內部節點進行測試。

JTAG 主要應用於可程式化晶片的內部邏輯測試，包括但不限於 CPU（中央處理器）、DSP（數位訊號處理器）、CPLD（可編程邏輯設備）和FPGA（現場可編程閘陣列）。這種標準使得在這些晶片中集成的邏輯電路能夠受到更全面的測試，從而提高可靠性和品質。

在 JTAG 標準中，通常使用 5V 的電壓範圍。這種電壓設計確保了足夠的訊號幅度，以確保在 JTAG 通訊過程中的可靠性。然而，隨著技術的發展，也有一些應用中使用較低的電壓，如 1.8V 或3.3V，以滿足低功耗和現代晶片設計的需求。

參數設定說明

通道 (Channel)：指定與待測物相接之通道編號。

cJTAG：可選擇是否開啟，開啟後 TDI/TDO 將反灰顯示，TCK/TMS 則為 cJTAG(OScan1) 模式下的 TCKC/TMSC 通道。

TRST：可選擇是否使用，若您會使用解釋指令功能的話，那系統就會根據您所選定的指令資料來決定是否用 TRST pin。

ADV 參數設定說明

解釋指令：若勾選， 將可以看到一個指令列表。JTAG protocol 分析將會在 Update-IR 時，將指令暫存器 (Instruction register) 的內容之指令顯示出來。使用者可選擇 “編輯…” 功能，使用編輯器自行添加修改指令列表檔 (JtagInst.txt)。修改完成後, 再按一次 “刷新”，就可以更新指令列表。

選擇顯示測試資料：
Test data：使用者可選擇 Input (TDI) 或 Output (TDO)；將會以 16 進制顯示TDI 或 TDO 的資料。

測試資料位元方向：因 JTAG 在資料傳輸時，資料長度可能不定。因此，使用者可指定解釋 TDI/TDO 時，資料是 LSB First 或 MSB First。

Report 參數設定說明

報告：啟用報告過濾功能，只要勾選需顯示於報告示窗內的項目。

Show TDI or/and TDO：若選擇 ”Show TDI and TDO” 時，報告視窗將會同時顯示 TDI 與 TDO。

解碼功能

邏輯分析擷取功能步驟說明：

① 匯流排快速設定：可快速建立所需的通道與相關設定。

② 選擇所需匯流排解碼。

③ 快速設定會連同取樣率與觸發準位都按照預設條件設定好。

④ 點選圖示進入匯流排參數設定畫面。