JTAG (Joint Test Action Group)是一種國際標準測試協議 (IEEE 1149.1),主要用於晶片內部測試 (如 CPU、DSP、CPLD、FPGA等)。這種標準最初由 Joint Test Action Group 組織開發,後來成為 IEEE 1149.1 標準,被廣泛應用於電子設計和製造領域。
標準的 JTAG 總共包括五個訊號介面:TCK、TMS、TDI、TDO 和 TRST。其中四個是輸入訊號介面和另外一個是輸出訊號介面。JTAG 最初是用來對晶片進行測試的,基本原理是在元件內部定義一個 TAP (Test Access Port),通過專用的 JTAG 測試工具對內部節點進行測試。
JTAG 主要應用於可程式化晶片的內部邏輯測試,包括但不限於 CPU(中央處理器)、DSP(數位訊號處理器)、CPLD(可編程邏輯設備)和FPGA(現場可編程閘陣列)。這種標準使得在這些晶片中集成的邏輯電路能夠受到更全面的測試,從而提高可靠性和品質。
在 JTAG 標準中,通常使用 5V 的電壓範圍。這種電壓設計確保了足夠的訊號幅度,以確保在 JTAG 通訊過程中的可靠性。然而,隨著技術的發展,也有一些應用中使用較低的電壓,如 1.8V 或3.3V,以滿足低功耗和現代晶片設計的需求。